航天器運行所處的宇宙空間環(huán)境中存在大量射線粒子，這些粒子會在航天器電子器件中產(chǎn)生空間輻射效應(yīng)，導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能下降、狀態(tài)改變，甚至功能失效，影響航天器使用壽命及在軌可靠運行。航天器功能和性能要求越來越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗納米電子器件的空間應(yīng)用前景廣闊。納米器件趨于物理極限的材料、工藝和結(jié)構(gòu)特點對空間輻射效應(yīng)產(chǎn)生顯著影響。本書主要介紹納米器件空間輻射效應(yīng)基本概念和研究現(xiàn)狀、納米器件所用材料的輻射損傷微觀表征、納米器件空間輻射效應(yīng)新機理及可靠性、輻射損傷在納米電路中的傳播機制和加固
書中重點聚焦于固體中電子輸運過程的仿真方法、二次電子發(fā)射特性仿真分析及其應(yīng)用三個部分。首先主要介紹了電子散射截面計算方法、隨機數(shù)、最小值、蒙特卡羅仿真策略等；然后在二次電子發(fā)射特性仿真分析重點討論了背散射系數(shù)、二次電子發(fā)射系數(shù)、二次電子能譜的計算結(jié)果；最后討論了仿真方法在SEM中線寬測量、能量選擇掃描電子摻雜襯度計算以及PMMA中的能量沉積。第三版是前兩版內(nèi)容的延伸，更新內(nèi)容包括了電子束的自旋極化理論、分子彈性散射的研究，Bethe-Bloch阻止本領(lǐng)公式的簡化、f-sum規(guī)則、ps-
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