本書主要包括材料X射線衍射分析和材料電子顯微分析兩大部分內容。書中介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。其內容包括：X射線物理學基礎、X射線的衍射基礎、多晶物相分析、應力測量與分析、多晶體織構測量、三維X射線顯微鏡、電子光學及電子顯微學基礎、透射電子顯微鏡的結構與工作原理、電子衍射和衍襯成像分析、高分辨透射電子顯微術、分析透射電子顯微術、掃描電子顯微鏡和電子探針、電子背散射衍射分析技術和其他顯微分析方法以及實驗指導。書中的實例分析著重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。
本書可以作為材料科學與工程學科的本科生和研究生教材或教學參考書，也可供材料成型及控制工程等其他專業師生和從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員學習參考。
目 錄
第4版前言
第3版前言
第2版前言
第1版前言
緒論1
第一篇材料X射線衍射分析3
第一章X射線物理學基礎5
第一節X射線的基本性質5
第二節X射線的產生及X射線譜7
第三節X射線與物質的相互作用11
習題17
第二章X射線的衍射基礎18
第一節幾何晶體學簡介18
第二節X射線晶體衍射原理23
第三節布拉格定律的相關討論25
第四節倒易空間的衍射方程式及
埃瓦爾德圖解27
第五節多晶體衍射花樣的形成30
第六節原子散射因子和幾何結構因子31
第七節洛倫茲因子35
第八節衍射強度的其他影響因素與
積分強度公式37
習題39
第三章多晶物相分析41
第一節照相法41
第二節衍射儀法43
第三節定性物相分析50
第四節定量物相分析54
第五節點陣參數測定60
習題67
第四章應力測量與分析68
第一節測量原理68
第二節測量方法72
第三節數據處理方法76
第四節三維應力及薄膜應力測量80
習題82
第五章多晶體織構測量83
第一節織構分類83
第二節極圖及其測量83
第三節反極圖及其測量88
第四節三維取向分布函數89
習題90
第六章三維X射線顯微鏡92
第一節三維X射線顯微鏡的結構92
第二節X射線計算機斷層成像97
第三節X射線衍射襯度斷層成像106
第四節三維X射線顯微鏡在材料學
研究中的應用110
習題116
第二篇材料電子顯微分析117
第七章電子光學及電子顯微學
基礎119
第一節電子波與電磁波119
第二節電磁透鏡的像差與分辨率122
第三節電磁透鏡的景深和焦長125
第四節電子束與固體樣品作用時
產生的信號126
習題128
第八章透射電子顯微鏡的結構與
工作原理129
第一節透射電子顯微鏡的結構與
成像原理129
第二節主要部件的結構與工作原理134
第三節透射電子顯微鏡分辨率和放大
倍數的測定139
習題141
第九章電子衍射和衍襯成像分析142
第一節概述142
第二節電子衍射原理143
第三節電子顯微鏡中的電子衍射152
第四節單晶體電子衍射花樣標定155
第五節復雜電子衍射花樣158
第六節薄膜樣品的制備方法160
第七節薄晶體衍射襯度成像原理163
第八節衍射運動學理論165
第九節衍襯動力學簡介173
第十節晶體缺陷分析176
習題184
第十章高分辨透射電子顯微術185
第一節高分辨透射電子顯微鏡的
結構特征185
第二節高分辨電子顯微像的原理186
第三節高分辨透射電子顯微術在材料
科學中的應用195
第四節高分辨透射電子顯微術應用
實例詳解202
習題211
材料分析方法第4版目錄第十一章分析透射電子顯微術212
第一節電子與物質的相互作用212
第二節掃描透射電子顯微術214
第三節原子分辨率EDS218
第四節電子能量損失譜及能量
過濾成像222
習題230
第十二章掃描電子顯微鏡和電子
探針231
第一節掃描電子顯微鏡的系統結構與
工作原理231
第二節環境掃描電子顯微鏡的工作
原理及應用233
第三節掃描電子顯微鏡的主要性能235
第四節表面形貌襯度原理及其應用237
第五節原子序數襯度原理及其應用242
第六節電子探針儀的結構與工作原理244
第七節電子探針儀的分析方法及應用248
習題250
第十三章電子背散射衍射分析
技術252
第一節概述252
第二節電子背散射衍射技術相關
晶體學取向基礎252
第三節電子背散射衍射技術硬件系統262
第四節電子背散射衍射技術原理及
花樣標定264
第五節電子背散射衍射技術成像
及分析268
第六節電子背散射衍射技術數據處理272
習題277
第十四章其他顯微分析方法278
第一節離子探針顯微分析278
第二節低能電子衍射分析280
第三節俄歇電子能譜分析284
第四節場離子顯微鏡與原子探針289
第五節掃描隧道顯微鏡與原子力
顯微鏡295
第六節X射線光電子能譜分析300
第七節紅外光譜303
第八節激光拉曼光譜311
第九節紫外可見吸收光譜314
第十節原子發射光譜319
第十一節原子吸收光譜322
第十二節核磁共振326
習題331
實驗指導332
實驗一用X射線衍射儀進行多晶體
物質的相分析332
實驗二宏觀殘余應力的測定335
實驗三金屬板織構的測定339
實驗四透射電子顯微鏡結構原理及
明暗場成像342
實驗五選區電子衍射與晶體取向分析345
實驗六掃描電子顯微鏡的結構原理及
圖像襯度觀察350
實驗七電子背散射衍射技術的工作原理與
菊池花樣觀察及標定354
實驗八電子背散射衍射技術的數據
處理及其分析應用357
實驗九電子探針結構原理及分析方法360
附錄363
附錄A物理常數363
附錄B質量吸收系數μl/ρ363
附錄C原子散射因子f364
附錄D各種點陣的結構因子F2HKL365
附錄E粉末法的多重性因數Phkl365
附錄F角因數1+cos22θsin2θcosθ366
附錄G德拜函數（x）x+14之值368
附錄H某些物質的特征溫度Θ368
附錄I12cos2θsinθ+cos2θθ的數值369
附錄J應力測定常數371
附錄K立方系晶面間夾角372
附錄L常見晶體標準電子衍射花樣375
附錄M立方與六方晶體可能出現的
反射379
附錄N特征X射線的波長和能量表380
參考文獻382
新書資訊