《凝聚態(tài)物質(zhì)性能測試與數(shù)據(jù)分析》以通俗易懂的方式系統(tǒng)闡述了凝聚態(tài)物質(zhì)性能測試原理和材料性能影響因素，重點(diǎn)以前沿?zé)狳c(diǎn)材料的相關(guān)性能測試數(shù)據(jù)作為研究對象，通過實(shí)例講述如何借助傳統(tǒng)和新興測試技術(shù)得到材料的相關(guān)信息，以及如何通過設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)來驗(yàn)證材料的性能機(jī)制。本書幾乎涉及材料性能測試的所有方面，包括材料微結(jié)構(gòu)、成分、相結(jié)構(gòu)、微觀化學(xué)環(huán)境、化學(xué)變化時(shí)的動(dòng)態(tài)監(jiān)測、晶格振動(dòng)、宏觀輸運(yùn)性能、載流子壽命、氧缺位等，培養(yǎng)讀者分析數(shù)據(jù)和設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的能力。
本書可以作為高等院校凝聚態(tài)物理、材料物理等相關(guān)專業(yè)本科生（部分內(nèi)容）、研究生的教材，也可供相關(guān)領(lǐng)域研究人員參閱。
第1章 材料結(jié)構(gòu)測試與數(shù)據(jù)分析 1
1.1 電子顯微鏡技術(shù) 1
1.1.1 電子顯微鏡技術(shù)簡介1
1.1.2 電子顯微鏡技術(shù)的測試原理1
1.1.3 掃描電子顯微鏡 3
1.1.4 透射電子顯微鏡 12
1.1.5 高分辨掃描透射電子顯微鏡 19
1.2 掃描探針顯微鏡技術(shù)26
1.2.1 掃描隧道顯微鏡28
1.2.2 原子力顯微鏡35
1.3 比表面積的測試與數(shù)據(jù)分析 41
1.3.1 比表面積的概念和相關(guān)影響因素 41
1.3.2 比表面積的測試原理與數(shù)據(jù)分析 41
習(xí)題53
參考文獻(xiàn)54
第2章 材料的相結(jié)構(gòu)與化學(xué)環(huán)境測試以及數(shù)據(jù)分析 58
2.1 相結(jié)構(gòu)測試與數(shù)據(jù)分析59
2.1.1 相結(jié)構(gòu)影響因素59
2.1.2 X 射線衍射59
2.1.3 選區(qū)電子衍射67
2.1.4 快速傅里葉變換76
2.2 材料的成分和含量測試及數(shù)據(jù)分析82
2.2.1 能量色散X 射線光譜儀83
2.2.2 電子能量損失譜87
2.2.3 能量散射譜95
2.3 綜合化學(xué)態(tài)測試與數(shù)據(jù)分析98
2.3.1 X 射線光電子能譜 98
2.3.2 X 射線吸收譜 103
2.3.3 俄歇電子能譜 118
習(xí)題 124
參考文獻(xiàn) 126
第3章 材料能帶結(jié)構(gòu)測試與數(shù)據(jù)分析 130
3.1 能帶結(jié)構(gòu)的影響因素及測試技術(shù) 130
3.1.1 能帶結(jié)構(gòu)及其影響因素 130
3.1.2 能帶結(jié)構(gòu)的常用測試技術(shù) 132
3.2 材料能帶結(jié)構(gòu)的測試與數(shù)據(jù)分析 132
3.2.1 紫外可見漫反射光譜 132
3.2.2 X 射線光電子價(jià)帶譜 137
3.2.3 紫外光電子能譜 141
3.2.4 莫特-肖特基曲線 145
3.2.5 利用電負(fù)性和能隙計(jì)算能帶位置 150
習(xí)題 151
參考文獻(xiàn) 152
第4章 晶格振動(dòng)與相關(guān)輸運(yùn)性能測試以及數(shù)據(jù)分析 154
4.1 晶格振動(dòng)影響因素及相關(guān)輸運(yùn)性能測試 154
4.2 晶格振動(dòng)測試與數(shù)據(jù)分析[1-3] 155
4.2.1 紅外光譜 155
4.2.2 拉曼光譜 165
4.3 材料輸運(yùn)性能測試與數(shù)據(jù)分析 170
4.3.1 影響熱導(dǎo)率與電導(dǎo)率的因素 170
4.3.2 電導(dǎo)率 172
4.3.3 熱導(dǎo)率 177
4.4 材料中載流子壽命測試與數(shù)據(jù)分析 184
4.4.1 載流子壽命的影響因素 184
4.4.2 瞬態(tài)吸收光譜 185
4.4.3 光電導(dǎo)衰減法 192
4.4.4 時(shí)間分辨光致發(fā)光譜 202
習(xí)題 206
參考文獻(xiàn) 210
第5章 材料中氧缺位與非配位氧的測試以及數(shù)據(jù)分析 213
5.1 氧缺位的定義和形成 213
5.2 氧缺位的檢測 214
5.2.1 X 射線光電子能譜 214
5.2.2 X 射線吸收譜 216
5.2.3 電子順磁譜 219
5.2.4 拉曼譜 220
5.2.5 正電子湮沒壽命譜 222
5.2.6 XRD 精修 225
5.3 表面吸附氧和體內(nèi)富余氧測試與數(shù)據(jù)分析 235
5.3.1 O2-TDP 和H2-TPR 的測試原理 235
5.3.2 O2-TDP 和H2-TPR 測試數(shù)據(jù)分析 235
習(xí)題 237
參考文獻(xiàn) 238
第6章 磁性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 241
6.1 直流磁性測量原理與數(shù)據(jù)分析 241
6.1.1 沖擊法 242
6.1.2 熱磁儀 249
6.1.3 磁天平 255
6.1.4 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì) 260
6.2 交流磁性測量原理與數(shù)據(jù)分析 279
6.2.1 伏安法 280
6.2.2 示波法 284
6.2.3 電橋法 290
習(xí)題 295
參考文獻(xiàn) 295
第7章 電介質(zhì)材料性能測試與數(shù)據(jù)分析 298
7.1 介電性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 298
7.1.1 介電性能的影響因素與測試原理 299
7.1.2 介電常數(shù)測試數(shù)據(jù)分析 302
7.2 壓電材料的壓電參數(shù)測試原理與數(shù)據(jù)分析 308
7.2.1 壓電參數(shù)的影響因素 309
7.2.2 壓電參數(shù)測量方法和原理 311
7.2.3 壓電常數(shù)測試數(shù)據(jù)分析 311
7.3 鐵電材料性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 315
7.3.1 鐵電性能的影響因素 316
7.3.2 電滯回線測試方法和原理 317
7.3.3 電滯回線測試數(shù)據(jù)分析 320
7.4 熱釋電性能測試原理與數(shù)據(jù)分析 325
7.4.1 熱釋電性能的影響因素 325
7.4.2 熱釋電系數(shù)測量方法和原理 326
7.4.3 熱釋電性能測試數(shù)據(jù)分析 327
習(xí)題 330
參考文獻(xiàn) 331
第8章 材料變化的熱力學(xué)與動(dòng)力學(xué)過程監(jiān)測以及數(shù)據(jù)分析 333
8.1 熱重分析原理與數(shù)據(jù)分析 334
8.1.1 熱重分析原理 334
8.1.2 熱重分析的影響因素 336
8.1.3 測試數(shù)據(jù)分析 338
8.2 差熱分析原理與數(shù)據(jù)分析 341
8.2.1 差熱分析原理 342
8.2.2 影響DTA 測試結(jié)果的外在因素 344
8.2.3 DTA 測試數(shù)據(jù)分析 346
8.3 差示掃描量熱測試原理與數(shù)據(jù)分析 350
8.3.1 DSC 分析基本原理 350
8.3.2 DSC 測試數(shù)據(jù)分析 351
8.4 變溫物理量獲得材料相變信息 356
8.4.1 變溫物理量獲得材料相變信息原理 356
8.4.2 變溫物理量獲得材料相變信息數(shù)據(jù)分析 357
習(xí)題 360
參考文獻(xiàn) 362
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