本書涵蓋土壤環(huán)境界面研究中17種**分析方法與表征技術(shù)，主要包括界面譜學(xué)分析，如X射線吸收光譜、原子配對分布函數(shù)、X射線吸收精細結(jié)構(gòu)光譜、紅外光譜、拉曼光譜、核磁共振波譜、穆斯堡爾譜、二次離子質(zhì)譜、傅里葉變換離子回旋共振質(zhì)譜等；界面表征技術(shù)，如電位滴定、石英晶體微天平、原子力顯微鏡、微流控等；界面模型與理論計算，如表面絡(luò)合物模型、密度泛函理論等。各章節(jié)在簡要介紹方法或技術(shù)的概念、基本原理和功能的基礎(chǔ)上，重點介紹其在土壤環(huán)境界面研究中的應(yīng)用實例。本書編寫遵循基本原理與應(yīng)用相結(jié)合，先進性、系統(tǒng)性和實用性相統(tǒng)一的原則，力求深入淺出、通俗易懂，使讀者能夠了解和掌握相關(guān)技術(shù)和方法，并能最終應(yīng)用到相關(guān)研究中。
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