本書為工業和信息化部“十四五”規劃教材，主要介紹晶體學基礎與X射線在材料結構、形貌和成分方面的分析技術。其中，結構分析技術包括X射線的物理基礎、衍射原理、物相分析、織構分析、小角散射與掠入射衍射分析、位錯分析、層錯分析、非晶分析、單晶體衍射與取向分析、內應力分析、點陣常數的測量與熱處理分析等；形貌分析技術即三維X射線顯微成像分析；成分分析技術包括特征X射線能譜、X射線光電子能譜及X射線熒光光譜等。書中研究和測試的材料主要包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、復合材料等。本書對每章內容做了提綱式的小結，并附有適量的思考題。書中采用一些作者尚未發表的圖，同時在實例分析中引入一些當前材料領域**的研究成果。
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