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X射線分析方法

X射線分析方法

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庫 存 數: 14

  • 作者:巫瑞智,王振強
  • 出版時間:2024/5/1
  • ISBN:9787030776976
  • 出 版 社:科學出版社
適用讀者:高等院校材料、化學、冶金等相關專業本科生和研究生,考研學生
  • 中圖法分類:O657.39 
  • 頁碼:207
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:B5
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本書介紹X射線物理學基礎、X射線衍射方向和衍射強度、多晶體X射線衍射分析等基本理論知識,在此基礎上介紹當前科學研究中經常使用的各種X射線技術,包括利用X射線衍射技術分析材料的物相、殘余應力、晶粒尺寸、位錯密度、織構等,以及利用X射線光電子能譜分析材料表面元素種類、含量。此外,本書還介紹了近年來基于電子計算機斷層掃描技術發展起來的三維X射線顯微鏡分析方法。
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