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典型物聯網環境下RFID防碰撞及動態測試關鍵技術:理論與實踐

典型物聯網環境下RFID防碰撞及動態測試關鍵技術:理論與實踐

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  • 作者:俞曉磊 著
  • 出版時間:2015/11/1
  • ISBN:9787030463623
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:TN911.23 
  • 頁碼:213
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16K
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RFID技術是一項多學科融合的新興應用技術,已廣泛應用于智能交通、圖書管理、門禁系統、食品安全溯源等諸多領域。《典型物聯網環境下RFID防碰撞及動態測試關鍵技術:理論與實踐》主要針對典型物聯網環境下RFID動態測試技術的理論與實踐進行了相關研究。全書共分六部分,分別介紹RFID防碰撞及動態測試關鍵技術、低信噪比環境下超高頻RFID系統建模與抗干擾、RFID多標簽防碰撞及分布性能檢測、基于光電傳感的RFID動態檢測系統的設計與實現、物聯網環境下RFID動態檢測的半物理實驗驗證以及基于RFID的矩陣分析方法等內容。《典型物聯網環境下RFID防碰撞及動態測試關鍵技術:理論與實踐》系統闡述了物聯網環境下RFID動態測試理論和基本原理,是對典型物聯網環境下RFID動態測量系統設計與實現研究方面新進展的總結,內容涉及光、機、電、控一體化以及多學科交叉的理論和實踐。
《典型物聯網環境下RFID防碰撞及動態測試關鍵技術:理論與實踐》可作為物聯網、電子信息、測試計量等相關專業的學習資料,也可供RFID行業技術人員和應用研究人員、物流領域工作者、物聯網系統集成商以及對自動識別技術感興趣的大專院校師生等閱讀參考。
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