本書首先介紹輻射環(huán)境、輻射相互作用物理過程及若干種輻射效應(yīng)； 接下來，本書詳細(xì)介紹集成電路抗輻射加固設(shè)計(jì)方法學(xué)，包括單粒子閂鎖加固策略及測試、輻射加固器件的SPICE模型、抗輻射單元庫設(shè)計(jì)、自動(dòng)綜合的抗輻射數(shù)字電路設(shè)計(jì)、模擬和混合信號(hào)電路加固設(shè)計(jì)等； 最后，本書介紹集成電路輻射效應(yīng)仿真、單粒子效應(yīng)的脈沖激光測試原理和輻射加固保障測試。
本書可作為微電子和核科學(xué)等領(lǐng)域相關(guān)教師、研究生和工程人員在學(xué)術(shù)研究和工程技術(shù)方面的參考書。
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