本書對材料研究過程中常用的分析方法進行介紹，包括X射線衍射分析、紅外吸收光譜、激光拉曼光譜、核磁共振譜、紫外可見光譜、熒光光譜及各種電子顯微鏡等，其內容涉及高分子材料、金屬材料、無機非金屬材料、復合材料等綜合領域。本書主要是結合實例進行講解，注重實用性，能提高材料類專業學生從事材料研究所必需的實際技能。
本書可以作為材料科學與工程及相關專業本科生、研究生的專業基礎課教材，也可以作為材料科學與工程相關實驗教師培訓參考書。
第1章緒論
1.1 材料的組織結構與性能
1.1.1 組織結構與性能的關系
1.1.2 微觀組織結構控制
1.2 顯微組織結構的內容
1.3 材料分析技術與材料的關系
1.4 分析技術簡介
1.4.1 X射線衍射
1.4.2 光譜分析
1.4.3 核磁共振
1.4.4 熱分析技術
1.4.5 表層分析技術
1.4.6 電子顯微鏡
第2章 X射線衍射分析
2.1 X射線衍射基本概念 第1章緒論
1.1 材料的組織結構與性能
1.1.1 組織結構與性能的關系
1.1.2 微觀組織結構控制
1.2 顯微組織結構的內容
1.3 材料分析技術與材料的關系
1.4 分析技術簡介
1.4.1 X射線衍射
1.4.2 光譜分析
1.4.3 核磁共振
1.4.4 熱分析技術
1.4.5 表層分析技術
1.4.6 電子顯微鏡
第2章 X射線衍射分析
2.1 X射線衍射基本概念
2.1.1 X射線衍射分析歷史
2.1.2 X射線的產生及X射線譜
2.1.3 X射線與物質的相互作用
2.1.4 光的散射和衍射
2.2 晶體空間點陣
2.3 X射線分析法原理
2.3.1 X射線在晶體中的衍射
2.3.2 X射線衍射的實驗方法簡介
2.3.3 小角X射線散射法
2.3.4 樣品的制備方法簡介
2.4 多晶體物相分析
2.4.1 X射線衍射物相分析的基本原理
2.4.2 物相分析的定性分析
2.4.3 物相的定量分析
2.4.4 物質狀態的鑒定
2.4.5 單晶和多晶取向測定
2.4.6 晶粒度的測定
2.4.7 介孔結構測定
2.4.8 宏觀應力測定
2.4.9 薄膜厚度和界面結構測定
2.4.10 多層膜結構測定
2.5 X射線法最新進展及應用
2.5.1 同步輻射X射線吸收精細結構方法
2.5.2 Rietveld方法
2.5.3 X射線衍射法其他應用
參考文獻
第3章 紅外吸收光譜
3.1 引言
3.1.1 紅外吸收光譜的基本原理
3.1.2 紅外吸收光譜的基本概念
3.2 雙原子分子的振動和轉動
3.2.1 轉子模型
3.2.2 振子模型
3.2.3 雙原子分子的紅外振-轉光譜
3.3 簡正振動
3.3.1 3n-5或3n-6規則
3.3.2 簡正坐標和簡正振動
3.3.3 分子對稱性
3.4 振動光譜的解釋和應用
3.4.1 倍頻、組頻、差頻
3.4.2 配位效應
3.4.3 Fermi共振和振動耦合
3.4.4 特征頻率
3.5 各類有機化合物的紅外吸收光譜
3.5.1 烷烴
3.5.2 烯烴及其他含雙鍵的化合物
3.5.3 炔烴和其他含叁鍵及具有累積雙鍵的化合物
3.5.4 芳烴和雜芳烴
3.5.5 含羥基的化合物
3.5.6 醚、環氧和過氧化合物
3.5.7 羰基化合物
3.5.8 胺
3.5.9 酰胺
3.5.10 氨基酸和銨鹽
3.5.11 其他化合物
3.6 紅外吸收光譜數據小結
3.7 利用紅外吸收光譜推測有機化合物結構
參考文獻
第4章 激光拉曼光譜法
第5章 紫外-可見光譜及熒光光譜
第6章 核磁共振譜
第7章 熱分析技術
第8章 表面分析技術
第9章 掃描電子顯微鏡
第10章 透射電子顯微鏡
第11章 掃描探針顯微鏡
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