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數字集成電路功耗與測試綜合優化

數字集成電路功耗與測試綜合優化

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  • 作者:孫強
  • 出版時間:2016/12/1
  • ISBN:9787302455608
  • 出 版 社:清華大學出版社
  • 中圖法分類:TN431.2 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:32開
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在數字集成電路領域中,隨著VLSI集成度和時鐘頻率的不斷提高,使得低層次綜合效率越來越低,測試越來越困難,電路功耗問題也越來越突出。研究表明,高層次綜合與設計技術能*限度地解決上述難題,優化設計目標。本書運用高層次綜合與設計技術,對數字集成電路的功耗與測試綜合優化等課題進行深入研究,介紹和提出了一些新的表示模型、設計方法和算法,推動了數字集成電路可測性、低功耗及其相互協調等問題的解決。
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